上面共講了八種氦質譜檢漏方法。此外，還有許多種由上述八種方法演變而來的方法。這八種方法，從原理上看可歸納為噴吹法（內探頭法）與吸入法（外探頭法），也可稱之為真空法與加壓法。

從實際應用的角度來看，所有的檢漏方法也可歸納成測漏與找漏兩大類。

測量漏率的方法有：氦罩法、檢漏盒法、背壓法、累積法與選擇性抽氣法。這些方法適用于測量總漏率，也可用來測量局部位置與單個漏孔的漏率。

測量漏率時的誤差來源主要有： 

①校準時標準漏孔所處的位置與被測漏孔的位置相距太遠，使得進入檢漏儀的示漏氣體的氣量不等。

②所用標準漏孔的標稱漏率值有誤差。

③檢漏儀的輸出指示與漏率間的關系不成線性。

④檢漏時進入被檢漏孔的示漏氣體的壓力和濃度和枝準標準漏孔時進入標準漏孔的示漏氣體的壓力和濃度有所不同。或因壓力與濃度的數值都不能準確給出而無法換算。

⑤校準用的標準漏孔與被測漏孔的氣流特性不同。

當容器的總漏率超過允許值而需要確定漏孔具體位置時，可再用噴吹法或吸嘴法找出漏孔的位置。

檢漏方法的靈活運用是很重要的，某些時候不一定非按照測漏、找漏的程序不可。有些部件如小器件的檢漏就可以同時完成測漏、找漏兩個步驟。在用氦質譜檢漏儀進行檢漏之前z*好先用簡易方法進行粗檢。