1.質譜儀

由分析場將離子束分離成不同質荷比的組分，并在整個立體角上同時記錄各種質荷比離子的儀器。

2.質譜計

借助于改變分析場的工作參數來記錄質譜的儀器，即，質譜的記錄利用了時間因素。此外，這類儀器的質譜記錄都利用了電子學方法。

3.靜態質譜計

儀器分析場的工作參數(電場、磁場和離子偏轉半徑)在質量分離過程中不隨時間改變。隨時間改變工作參數只是為了連續記錄質譜，而不是質量分離所必須。

4.動態質譜計

質譜計的分析場在質量分離過程中利用了時間因素，即，分析場一個或幾個工作參數(電場、電場頻率和磁場)是隨時間而變化的。

5.質譜

表征質譜計中由樣品所盧生的離子種類和相對量的任何一種顯示，如，筆錄式記錄儀圖形、示波器圖形等。

6.峰(質量峰，質譜峰)

質譜中，某種質荷比離子的輸出信號圖形。因為這種離子流圖形是由某種質荷比的離子所產生的，因此也稱之為質量峰。例如“質量28的峰”。

7.碎片圖形(離子譜)

質譜計在一定工作條件下，由給定的樣品所產生的離子特征圖形(即離子種類和它們的相對量)。

8.圖形系數

表征碎片圖形(離子譜)中，各種質荷比的離子的相對豐度系數。它定義為圖形系數(詈)i=尋蠢xioo% c他一71，式中H(m幾)b為基準峰的質荷比。圖形系數為100的峰稱基準峰。

9.母峰

未分解的的分子態離子的峰。但母峰不一定是碎片圖形中的基準峰。

10.碎片峰

伴隨分子電離而分解成碎片離子的峰。

11.同位素峰

通常，同位素是天然存在的，為了區別于碎片峰，稱之為同位素峰。當然，碎片離子峰也存在同位素峰。

12.重排峰

碎片離子與別的原子或分子等重新排列結合成的峰。

13.雙電荷峰

因離子源的電子能量高于樣品的電離電位，原子或分子在電離過程中可能失去兩個電子，這種離子的峰稱雙電荷峰。在通常的電子能量下，三電荷峰是極小的。

14.亞穩態峰

亞穩態離子所形成的峰。

15.掃描參數

表征質譜計分析器的電場或磁場的參數(電壓、頻率和磁感應強度等)。這種參數的變化可以使離子檢測器接受到不同質荷比的離子。

16。掃描

改變掃描參數的過程。它使質譜計在整個工作質量范圍或部分質量范圍內獲得一個質譜。

17.質量數

z*接近離子質量的整數，用[u]表示，也可用原子量或分子量來表示。例如，氖的一種同位素的原子質量為19.9987[u]，稱它的質量數為20。另一種表達法為，質量數是原子核內質子和中子數的總和。

18.質量范圍(工作質量范圍)

質譜計能進行有效分析的整個質量范圍，用檢測z*小和z*大的單電荷離子之間的質量范圍來表示。

19.質量歧視效應

對于具有相同壓力的不同質量氣體組分，質譜計給出不同的輸出指示的特性。它是由離子源、分析器和離子檢測器(如電子倍增器)的性能造成的。在分壓力校準中，通常只能測量質譜計全面的歧視效應，所以在實測的歧視效應中還包括電離截面效應。

20.峰寬

質譜中峰底部的寬度。峰底被定義為峰的兩個側邊和參考基線的交點或切點間的長度。單位為[u]。

21.零輸出基線

原則上講，它是質譜中的一條直線，它是質譜計在沒有檢測到離子時的輸出線。實際上是一條與許多被完全分辨的峰底相切的直線。在完全分辨的情況下，這些峰的原子質量和相鄰峰的原子質量差別很大，因而這些峰不受鄰峰的影響。

22.峰距

平行于質量數坐標的兩個峰頂之間的距離。單位為[u]。

23.峰高

零輸出基線到峰頂之間的距離。高度單位可任意選擇。

24.谷(峰谷)

高于零輸出基線的兩個相鄰峰側邊的連接部分。谷的高度為，從零輸出基線到谷z*低點間的距離，用和峰相同的單位來度量。

25.分辨本領的一般定義

質譜計分離不同荷質比離子產生峰的能力。

26.絕對分辨

在質量數M處，分離不同荷質比的能力，用質量數M處峰寬AM表示。

27.分辨本領(分辨能力)

在質量數M處，質量數M和對該峰某高度處的峰寬AM之比。

28.單位質量分辨

在質量數M處，質量數對應該峰某高庋處的峰寬AM -1u。

29.參考基線

根據對分辨本領的不同定義，在零輸出基線上方，峰高的50%、10%或5%等處所作的平行于零輸出基線的直線。

30.質量標度(質標)

表征質量數的坐標(通常為橫坐標)。不同原理的質譜計，掃描參數與質量數的關系有的呈線性關系，有的呈非線性關系。計算分辨時，必須將橫坐標換算成線性質量標度。

31.克分子分數

氣體混合物中，某種組分的原子或分子數與總原子或分子數之比。對于理想氣體，克分子分數和按其體積計算的分數相同。

32.分壓力

氣體混合物中，給定組分的分壓力為氣體混合物的全壓力和該種組分的克分子分數的乘積。

33.分壓力靈敏度(靈敏度)

質譜計的分壓力靈敏度為輸出離子流的變化量除以引起這種變化的氣體分壓力的變化量。如不計其發射電子流的數值，其單位為A/Pa。

34.z*小可檢濃度(z*小可檢體積分數或壓力分數)

儀器對氣體混合物中能檢測到的某一組分體積分數或壓力分數的z*小值。

35.z*小可檢分壓力

質譜計可檢測到的z*小分壓力，它等效于檢測一個兩倍噪聲數值的輸出。

36.噪聲

由虛假的輸出指示所引起的零輸出基線的快變化過程。