影響質譜計分辨本領及峰形因素包括：

①四極桿系結構及加工安裝精度。四極桿長L的增加，使離子在四極場經歷足夠多的高頻周期數，得到充分分離。因此可提高儀器的分辨本領。
 

從對公式(12-48)中的口全微分后可以得到AM /M=2Aro/ro關系式。因此，高精度的桿系加工和裝配，可確保高分辨本領的獲褥。

②高頻電壓頻率高，增加離子在四極場經歷高頻周期數，可提高分辨本領。

③離子源入口條件。選用尼爾型電子碰撞離子源，具有z*小的離子能量分散，可獲得高分辨本領。離子源入口孔徑應限制在一定范圍內，確保高分辨本領的獲得。此外，離子源裝配及離子引入和四極場同軸度的精度影響分辨本領和峰形。

④調節質量掃描線斜率，即增加U/V的比值。從穩定三角形看出，隨著質量掃描線斜率增加，掃描線通過三角形的區域△q減小，因此處于△q的對應質量數為△M的穩定的離子也減小，分辨本領M /△M增加。理論上掃描線的斜率為a/q=0.16784。分辨本領趨向無窮，但在實際儀器參數調節時，過于增加斜率，可導致靈敏度迅速下降和峰形畸變。因此利用調節質量掃描線斜率的方法提高分辨本領，只能根據不同儀器進行折衷選擇，并通過實驗確定z*佳參數。

⑤離子引入能量的選擇。離子引入能量低，可增加離子在分析場經歷的高頻周期數，達到提高分辨本領的目的，但同時靈敏度下降。